W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Ludzie / Nilanjan Mukherjee

Osoba spoza Politechniki Poznańskiej
Wszystkie publikacje

Nilanjan Mukherjee

Artykuły  |  Rozdziały  |  Prawa własności intelektualnej

Artykuły (18)

  • 1.
    LBIST for Automotive ICs with Enhanced Test Generation / Bartosz Kaczmarek, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Artur Pogiel, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2022, vol. 41, no. 7, s. 2290-2300

    Artykuł naukowy 100 2,9
  • 2.
    Time and Area Optimized Testing of Automotive ICs / Nilanjan Mukherjee, Daniel Tille, Mahendar Sapati, Yingdi Liu, Jeffrey Mayer, Sylwester Milewski (WIiT), Elham Moghaddam, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2021, vol. 29, no. 1, s. 76-88

    Artykuł naukowy 100 2,775
  • 3.
    Deterministic Stellar BIST for Automotive ICs / Yingdi Liu, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2020, vol. 39, no. 8, s. 1699-1710

    Artykuł naukowy 100 2,807
  • 4.
    Logic BIST with capture-per-clock hybrid test points / Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2019, vol. 38, no. 6, s. 1028-1041

    Artykuł naukowy 100 2,168
  • 5.
    Hardware Protection via Logic Locking Test Points / Michael Chen, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2018, vol. 37, no. 12, s. 3020-3030

    Artykuł naukowy 25 2,402
Wszystkie ARTYKUŁY

Rozdziały (16)

  • 1.
    Test Sequence-Optimized BIST for Automotive Applications / Bartosz Kaczmarek, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jerzy Tyszer (WIiT) // W: IEEE European Test Symposium (ETS) 2020: IEEE, 2020

    Rozdział w monografii naukowej / referat 20
  • 2.
    Test Time and Area Optimized BrST Scheme for Automotive ICs / Nilanjan Mukherjee, Daniel Tille, Mahendar Sapati, Yingdi Liu, Jeffrey Mayer, Sylwester Milewski, Elham Moghaddam, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE International Test Conference (ITC 2019): IEEE, 2019

    Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
  • 3.
    Deterministic Stellar BIST for in-system automotive test / Yingdi Liu, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

    Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
  • 4.
    Full-Scan LBIST with Capture-per-Cycle Hybrid Test Points / Sylwester Milewski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2017 IEEE INTERNATIONAL TEST CONFERENCE (ITC) - New York, NY, USA : IEEE, 2017

    Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
  • 5.
    On Test Points Enhancing Hardware Security / Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS) - Los Alamitos, United States : IEEE, 2016 - s. 61-66

    Referat
Wszystkie ROZDZIAŁY

Prawa własności intelektualnej (4)

Wszystkie WYNIKI
System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.