W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Deterministic Stellar BIST for Automotive ICs

Autorzy

[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2020

Opublikowano w

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Rocznik: 2020 | Tom: vol. 39 | Numer: no. 8

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • automotive embedded test
  • functional safety
  • scan-based testing
  • test application time
  • test data compression
Strony (od-do)

1699 - 1710

DOI

10.1109/TCAD.2019.2925353

URL

https://doi.org/10.1109/TCAD.2019.2925353

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

100

Punktacja Ministerstwa / czasopismo w ewaluacji 2017-2021

100

Impact Factor

2,807

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.