Tytuł
Deterministic Stellar BIST for Automotive ICs
Autorzy
[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)
Rok publikacji
2020
Typ artykułu
artykuł naukowy
Język publikacji
angielski
Słowa kluczowe
EN
- automotive embedded test
- functional safety
- scan-based testing
- test application time
- test data compression
Strony (od-do)
1699 - 1710
Punktacja Ministerstwa / czasopismo
100
Punktacja Ministerstwa / czasopismo w ewaluacji 2017-2021
100
Impact Factor
2,807
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN