SIS PUT | Opracowanie strategii pomiarów nierówności powierzchni stykowymi i bezstykowymi systemami pomiarowymi dla potrzeb implementacji rozwiązań opartych na sztucznej inteligencji

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

PL EN

Main page / Reports / Opracowanie strategii pomiarów nierówności powierzchni stykowymi i bezstykowymi systemami pomiarowymi dla potrzeb implementacji rozwiązań opartych na sztucznej inteligencji

Submit a comment

Report

Works title

Opracowanie strategii pomiarów nierówności powierzchni stykowymi i bezstykowymi systemami pomiarowymi dla potrzeb implementacji rozwiązań opartych na sztucznej inteligencji

Authors

Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Bartosz Gapiński (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Mendak (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Work ID

r3462_2022

Keywords

nierówność powierzchni
strategia pomiarowa
pomiary optyczne
pomiary stykowe

Date

01.12.2022

Language

polish

Number of pages or volume of work

Type of work

research report

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center