SIS PUT | Przegląd obowiązujących norm metrologicznych dotyczących analizy danych pomiarowych istotnych z puntu widzenia rozwiązań AI implementowanych w ramach projektu

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

PL EN

Main page / Reports / Przegląd obowiązujących norm metrologicznych dotyczących analizy danych pomiarowych istotnych z puntu widzenia rozwiązań AI implementowanych w ramach projektu

Submit a comment

Report

Works title

Przegląd obowiązujących norm metrologicznych dotyczących analizy danych pomiarowych istotnych z puntu widzenia rozwiązań AI implementowanych w ramach projektu

Authors

Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Bartosz Gapiński (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Work ID

r4184_2023

Keywords

sztuczna inteligencja (AI)
normy w zakresie nierówności powierzchni

Date

05.09.2023

Language

polish

Number of pages or volume of work

Type of work

research report

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center