SIS PUT | Zastosowanie wieloskalowej analizy nierówności powierzchni do oceny korelacji pomiędzy parametrami procesu wytwarzania a parametrami opisującymi mikrogeometrię powierzchni wykonanych w technikach addytywnych, uwzględniając obecność cech wielowejściowych

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

PL EN

Main page / Reports / Zastosowanie wieloskalowej analizy nierówności powierzchni do oceny korelacji pomiędzy parametrami procesu wytwarzania a parametrami opisującymi mikrogeometrię powierzchni wykonanych w technikach addytywnych, uwzględniając obecność cech wielowejściowych

Submit a comment

Report

Works title

Zastosowanie wieloskalowej analizy nierówności powierzchni do oceny korelacji pomiędzy parametrami procesu wytwarzania a parametrami opisującymi mikrogeometrię powierzchni wykonanych w technikach addytywnych, uwzględniając obecność cech wielowejściowych

Authors

Tomasz Bartkowiak (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Katarzyna Peta (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Maria Kuznowicz (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Bartosz Gapiński (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Work ID

r4726_2024

Keywords

metrologia powierzchni
korelacje
cechy wielowejściowe
druk 3D

Date

20.02.2024

Language

polish

Number of pages or volume of work

Type of work

research report

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center