Tytuł
Krytyczne punkty w monitorowaniu luki informacyjnej
Autorzy
[ 1 ] Katedra Zarządzania i Systemów Informatycznych, Wydział Inżynierii Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Katedra Ergonomii i Inżynierii Jakości, Wydział Inżynierii Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2013
Typ rozdziału
rozdział w monografii naukowej
Język publikacji
polski
Strony (od-do)
349 - 360
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN