Tytuł
The Use of Optical Scanner for Analysis of Surface Defects
Autorzy
[ 1 ] Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)
Rok publikacji
2019
Typ rozdziału
rozdział w monografii naukowej / referat
Język publikacji
angielski
Słowa kluczowe
EN
- surface defect
- topography
- optical scanner
- mesoscale
- surface treatment
Strony (od-do)
0076 - 0085
Punktacja Ministerstwa / rozdział
5
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN