W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / Metrological analysis of surface quality aspects in minimum quantity cooling lubrication
Zgłoś uwagę

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Metrological analysis of surface quality aspects in minimum quantity cooling lubrication

Autorzy

[ 1 ] Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.9] Inżynieria mechaniczna

Rok publikacji

2021

Opublikowano w

Measurement

Rocznik: 2021 | Tom: vol. 171

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • surface metrology
  • surface topography
  • power spectral density
  • optical metrology
  • volume air flow
Data udostępnienia online

15.12.2020

Strony (od-do)

108847-1 - 108847-12

DOI

10.1016/j.measurement.2020.108847

URL

https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0263224120313397?casa_token=cffA1RZcm-oAAAAA:-IFBF67-Vbq6lCo_OdZZ1S2OCHVkWuj3GI6TftWEvO1LbB0mLqP0JA_fXBf3yVc-SxrIuVNNZAM

Uwagi

Article Number: 108847

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

200

Punktacja Ministerstwa / czasopismo w ewaluacji 2017-2021

200

Impact Factor

5,131

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

W SIN trwają obecnie prace nad zaktualizowaniem wartości Impact Factor (oraz wartości percentyli).
Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.