Tytuł
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS)
Rok publikacji
2016
Typ książki
materiały konferencyjne
Język publikacji
angielski
Miejsce
Los Alamitos, United States
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2016
ISBN
978-1-5090-3809-1
Opublikowano w
Publikacja indeksowana w
WoS (15)
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN