Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Rozdział

Tytuł

On Test Points Enhancing Hardware Security

Autorzy

[ 1 ] Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik | [ D ] doktorant

Rok publikacji

2016

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

61 - 66

DOI

10.1109/ATS.2016.24

Książka

2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS)

Zaprezentowany na

2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), 21-24.11.2016, Hiroshima, Japan

Publikacja indeksowana w

WoS (10)