W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / Star-EDT: Deterministic on-chip scheme using compressed test patterns
Zgłoś uwagę

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Star-EDT: Deterministic on-chip scheme using compressed test patterns

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2017

Opublikowano w

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Rocznik: 2017 | Tom: vol. 36 | Numer: no. 4

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • design for testability
  • embedded-test
  • scan-basedtesting
  • test application time
  • test data compression
Strony (od-do)

683 - 693

DOI

10.1109/TCAD.2016.2597214

URL

https://doi.org/10.1109/TCAD.2016.2597214

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

25

Punktacja Ministerstwa / czasopismo w ewaluacji 2017-2021

25

Impact Factor

2,089

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.