Low Cost Hypercompression of Test Data

Yu Huang; Sylwester Milewski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Chen Wang

doi:10.1109/TCAD.2019.2945760

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / Low Cost Hypercompression of Test Data

Zgłoś uwagę

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Low Cost Hypercompression of Test Data

Autorzy

Yu Huang
Sylwester Milewski (WIiT) ^{[ 1 ]}
Janusz Rajski
Jerzy Tyszer (WIiT) ^{[ 2 ][ 2.3 ][ P ]}
Chen Wang

^{[ 1 ]} Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | ^{[ 2 ]} Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2020

Opublikowano w

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Rocznik: 2020 | Tom: vol. 39 | Numer: no. 10

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe

EN

design for testability
embedded test
isometric compression
scan-based testing
test data compression

Strony (od-do)

2964 - 2975

DOI

10.1109/TCAD.2019.2945760

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/8861091

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

100

Punktacja Ministerstwa / czasopismo w ewaluacji 2017-2021

100

Impact Factor

2,807

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN