SIN PP | Sylwester Milewski

Strona główna / Ludzie / Sylwester Milewski

Doktorant

Wszystkie publikacje

Artykuły | Rozdziały

1.

Autonomous Scan Patterns for Laser Voltage Imaging / Jerzy Tyszer (WIiT), Wu-Tung Cheng, Sylwester Milewski (WIiT), Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Maciej Trawka // IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing - 2021, vol. 9, no. 2, s. 680-691

Artykuł naukowy 140,0 7,691
2.

Time and Area Optimized Testing of Automotive ICs / Nilanjan Mukherjee, Daniel Tille, Mahendar Sapati, Yingdi Liu, Jeffrey Mayer, Sylwester Milewski (WIiT), Elham Moghaddam, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2021, vol. 29, no. 1, s. 76-88

Artykuł naukowy 100,0 2,312
3.

Low Cost Hypercompression of Test Data / Yu Huang, Sylwester Milewski (WIiT), Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Chen Wang // IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2020, vol. 39, no. 10, s. 2964-2975

Artykuł naukowy 100,0 2,807

1.

X-Tolerant Tunable Compactor for In-System Test / Yingdi Liu, Sylwester Milewski, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: IEEE International Test Conference (ITC) 2020: IEEE, 2020

Rozdział w monografii naukowej / referat 20,0 70,0
2.

Test Time and Area Optimized BrST Scheme for Automotive ICs / Nilanjan Mukherjee, Daniel Tille, Mahendar Sapati, Yingdi Liu, Jeffrey Mayer, Sylwester Milewski, Elham Moghaddam, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE International Test Conference (ITC 2019): IEEE, 2019

Rozdział w monografii naukowej / referat 20,0 70,0
3.

Hypercompression of test patterns / Yu Huang, Sylwester Milewski (WEiT), Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Chen Wang // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

Rozdział w monografii naukowej / referat 20,0 70,0 15
4.

Full-Scan LBIST with Capture-per-Cycle Hybrid Test Points / Sylwester Milewski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2017 IEEE INTERNATIONAL TEST CONFERENCE (ITC) - New York, NY, USA : IEEE, 2017

Rozdział w monografii naukowej / referat 20,0 70,0 15
5.

Low Power Test Compression with Programmable Broadcast-Based Control / Sylwester Milewski, Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, Hangzhou, 16-19 Nov. 2014: IEEE, 2014 - s. 174-179

Referat

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN