W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Ludzie / Sylwester Milewski

Doktorant
Wszystkie publikacje

Sylwester Milewski

Artykuły  |  Rozdziały  |  Rozprawa doktorska  |  Prawa własności intelektualnej

Artykuły (5)

  • 1.
    A new static compaction of deterministic test sets / Stephan Eggersglüß, Sylwester Milewski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2023, vol. 31, iss. 4, s. 411-420

    Artykuł naukowy 100 2,8
  • 2.
    Autonomous Scan Patterns for Laser Voltage Imaging / Jerzy Tyszer (WIiT), Wu-Tung Cheng, Sylwester Milewski (WIiT), Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Maciej Trawka // IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing - 2021, vol. 9, no. 2, s. 680-691

    Artykuł naukowy 140 6,595
  • 3.
    Time and Area Optimized Testing of Automotive ICs / Nilanjan Mukherjee, Daniel Tille, Mahendar Sapati, Yingdi Liu, Jeffrey Mayer, Sylwester Milewski (WIiT), Elham Moghaddam, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2021, vol. 29, no. 1, s. 76-88

    Artykuł naukowy 100 2,775
  • 4.
    X-Tolerant Compactor maXpress for In-System Test Applications with Observation Scan / Yingdi Liu, Sylwester Milewski (WIiT), Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2021, vol. 29, no. 8, s. 1553-1566

    Artykuł naukowy 100 2,775
  • 5.
    Low Cost Hypercompression of Test Data / Yu Huang, Sylwester Milewski (WIiT), Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Chen Wang // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2020, vol. 39, no. 10, s. 2964-2975

    Artykuł naukowy 100 2,807
Wszystkie ARTYKUŁY

Rozdziały (6)

  • 1.
    On Reduction of Deterministic Test Pattern Sets / Stephan Eggersglüß, Sylwester Milewski (WIiT), Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT) // W: Proceedings of the IEEE International Test Conference 2021: IEEE, 2021 - s. 260-267

    Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
  • 2.
    X-Tolerant Tunable Compactor for In-System Test / Yingdi Liu, Sylwester Milewski, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: IEEE International Test Conference (ITC) 2020: IEEE, 2020

    Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
  • 3.
    Test Time and Area Optimized BrST Scheme for Automotive ICs / Nilanjan Mukherjee, Daniel Tille, Mahendar Sapati, Yingdi Liu, Jeffrey Mayer, Sylwester Milewski, Elham Moghaddam, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE International Test Conference (ITC 2019): IEEE, 2019

    Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
  • 4.
    Hypercompression of test patterns / Yu Huang, Sylwester Milewski (WEiT), Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Chen Wang // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

    Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
  • 5.
    Full-Scan LBIST with Capture-per-Cycle Hybrid Test Points / Sylwester Milewski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2017 IEEE INTERNATIONAL TEST CONFERENCE (ITC) - New York, NY, USA : IEEE, 2017

    Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
Wszystkie ROZDZIAŁY

Rozprawa doktorska

  • 1.
    Hypercompression of test data / Sylwester Milewski (WIiT) / prom. Jerzy Tyszer (WIiT), rec. Matteo Sonza Reorda, Sybille Hellebrand - Poznań, Polska, 2022 - 89 s.

    Rozprawa doktorska

Prawa własności intelektualnej (3)

Wszystkie WYNIKI
System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.