Tytuł
Test response compactor with programmable selector
Autorzy
[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2006
Typ rozdziału
referat
Język publikacji
angielski
Słowa kluczowe
EN
- compression
- scan chain selection
- unknown states
- VLSI test
Streszczenie
EN The paper presents an efficient method for synthesis of scan chain selection logic. It is capable of acting as a flexible X-control logic for test response compactors. The same circuitry can also be employed to selectively gate scan chains for diagnostic purposes.
Strony (od-do)
1089 - 1094
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN