2D test sequence generators

Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer

doi:10.1109/MDT.2003.1173053

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / 2D test sequence generators

Zgłoś uwagę

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

2D test sequence generators

Autorzy

Grzegorz Mrugalski (WE) ^{[ 1 ][ P ]}
Janusz Rajski
Jerzy Tyszer (WE) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Elektroniki i Telekomunikacji (IEt), Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Rok publikacji

2003

Opublikowano w

IEEE Design and Test of Computers

Rocznik: 2003 | Tom: vol. 20 | Numer: iss. 1

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Streszczenie

EN In experiments examining test pattern generators using LFSRs with and without phase shifters as sources of 2D stimuli, generators with phase shifters consistently achieved higher hit ratios than those without them. Moreover, a new algorithm synthesizes phase shifters, minimizes linear dependencies, and highly balances the use of generator stages.

Strony (od-do)

51 - 59

DOI

10.1109/MDT.2003.1173053

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/1173053

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN