Tytuł
On New Test Points for Compact Cell-Aware Tests
Autorzy
[ 1 ] Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik | [ D ] doktorant
Rok publikacji
2016
Opublikowano w
Typ artykułu
artykuł naukowy
Język publikacji
angielski
Słowa kluczowe
EN
- circuit faults
- logic gates
- automatic test pattern generation
- correlation
- controllability
- process control
Strony (od-do)
7 - 14
Punktacja Ministerstwa / czasopismo
30
Impact Factor
1,366
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN