SIN PP | Opracowanie strategii pomiarów nierówności powierzchni stykowymi i bezstykowymi systemami pomiarowymi dla potrzeb implementacji rozwiązań opartych na sztucznej inteligencji

W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Raporty / Opracowanie strategii pomiarów nierówności powierzchni stykowymi i bezstykowymi systemami pomiarowymi dla potrzeb implementacji rozwiązań opartych na sztucznej inteligencji

Zgłoś uwagę

Raport

Tytuł dzieła

Opracowanie strategii pomiarów nierówności powierzchni stykowymi i bezstykowymi systemami pomiarowymi dla potrzeb implementacji rozwiązań opartych na sztucznej inteligencji

Autorzy

Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Bartosz Gapiński (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Mendak (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Identyfikator dzieła

r3462_2022

Słowa kluczowe

PL

nierówność powierzchni
strategia pomiarowa
pomiary optyczne
pomiary stykowe

Data

01.12.2022

Język

polski

Liczba stron lub objętość dzieła

32

Typ dzieła

raport z badań

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.