SIN PP | Przegląd obowiązujących norm metrologicznych dotyczących analizy danych pomiarowych istotnych z puntu widzenia rozwiązań AI implementowanych w ramach projektu

W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Raporty / Przegląd obowiązujących norm metrologicznych dotyczących analizy danych pomiarowych istotnych z puntu widzenia rozwiązań AI implementowanych w ramach projektu

Zgłoś uwagę

Raport

Tytuł dzieła

Przegląd obowiązujących norm metrologicznych dotyczących analizy danych pomiarowych istotnych z puntu widzenia rozwiązań AI implementowanych w ramach projektu

Autorzy

Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Bartosz Gapiński (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Identyfikator dzieła

r4184_2023

Słowa kluczowe

PL

sztuczna inteligencja (AI)
normy w zakresie nierówności powierzchni

Data

05.09.2023

Język

polski

Liczba stron lub objętość dzieła

27

Typ dzieła

raport z badań

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.