W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Raporty / Zastosowanie wieloskalowej analizy nierówności powierzchni do oceny korelacji pomiędzy parametrami procesu wytwarzania a parametrami opisującymi mikrogeometrię powierzchni wykonanych w technikach addytywnych, uwzględniając obecność cech wielowejściowych
Zgłoś uwagę

Raport

Tytuł dzieła

Zastosowanie wieloskalowej analizy nierówności powierzchni do oceny korelacji pomiędzy parametrami procesu wytwarzania a parametrami opisującymi mikrogeometrię powierzchni wykonanych w technikach addytywnych, uwzględniając obecność cech wielowejściowych

Autorzy

[ 1 ] Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Identyfikator dzieła

r4726_2024

Słowa kluczowe
PL
  • metrologia powierzchni
  • korelacje
  • cechy wielowejściowe
  • druk 3D
Data

20.02.2024

Język

polski

Liczba stron lub objętość dzieła

54

Typ dzieła

raport z badań

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.