W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Raporty / Zastosowanie wieloskalowej analizy nierówności powierzchni do oceny korelacji pomiędzy parametrami procesu wytwarzania a parametrami opisującymi mikrogeometrię powierzchni wykonanych w technikach addytywnych, uwzględniając obecność cech wielowejściowych
Zgłoś uwagę

Raport

Tytuł dzieła

Zastosowanie wieloskalowej analizy nierówności powierzchni do oceny korelacji pomiędzy parametrami procesu wytwarzania a parametrami opisującymi mikrogeometrię powierzchni wykonanych w technikach addytywnych, uwzględniając obecność cech wielowejściowych

Autorzy

[ 1 ] Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Identyfikator dzieła

r4726_2024

Słowa kluczowe
PL
  • metrologia powierzchni
  • korelacje
  • cechy wielowejściowe
  • druk 3D
Data

20.02.2024

Język

polski

Liczba stron lub objętość dzieła

54

Typ dzieła

raport z badań

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo, w formularzu zgłoszenia publikacji do SIN, by sprostać wymogom oceny wg kryterium umiędzynarodowienia, pojawiło się nowe pole: "Praca powstała w ramach współpracy międzynarodowej".



5. stycznia 2024 r. ogłoszony został Komunikat Ministra Nauki w sprawie wykazu czasopism naukowych i recenzowanych materiałów z konferencji międzynarodowych. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (co wymuszone jest procedurami przesyłu danych o publikacjach) – zatem nowe, zmienione Komunikatem, punkty widoczne będą w SIN, gdy tylko zostaną zaktualizowane w PBN. Wg pozyskanych z PBN informacji, Wykaz ma zostać wdrożony w kwietniu.
Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.