W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Trimodal scan-based test paradigm

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2017

Opublikowano w

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

Rocznik: 2017 | Tom: vol. 25 | Numer: no. 3

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • design for testability
  • low-power test
  • test application time
  • test data compression
  • test-per-clock scheme
  • scan-based testing
Data udostępnienia online

27.09.2016

Strony (od-do)

1112 - 1125

DOI

10.1109/TVLSI.2016.2608984

URL

https://doi.org/10.1109/TVLSI.2016.2608984

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

30

Punktacja Ministerstwa / czasopismo w ewaluacji 2017-2021

30

Impact Factor

1,744

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.