Title
Fizyczne aspekty precyzji pomiarów metodą podwójnego rezonansu optyczno-mikrofalowego na strumieniu atomowym
Authors
[ 1 ] Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] employee
Year of publication
2006
Published in
Article type
scientific article
Publication language
polish
Pages (from - to)
30 - 32
System created by Poznań University of Technology
and Poznan Supercomputing and Networking Center
Log in through eKonto to add to SIS