Analysis of surface measurement data for building AI models

Marta Rępalska; Tomasz Kowaluk; Dawid Kucharski; Adam Gąska; Krzysztof Stępień; Bartosz Gapiński; Michał Nawotka; Piotr Sobecki; Piotr Sosinowski; Jan Tomasik; Michał Wieczorowski; Adam Wójtowicz

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

PL EN

Main page / Publications / Analysis of surface measurement data for building AI models

Submit a comment

Chapter

Download BibTeX

Title

Analysis of surface measurement data for building AI models

Authors

Marta Rępalska ^{[ P ]}
Tomasz Kowaluk ^{[ P ]}
Dawid Kucharski (WIM) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}
Adam Gąska ^{[ P ]}
Krzysztof Stępień ^{[ P ]}
Bartosz Gapiński (WIM) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}
Michał Nawotka
Piotr Sobecki
Piotr Sosinowski
Jan Tomasik ^{[ P ]}
Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}
Adam Wójtowicz

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Scientific discipline (Law 2.0)

[2.9] Mechanical engineering

Year of publication

2024

Chapter type

abstract

Publication language

english

Keywords

EN

surface metrology
statistical analysis
artificial inteligence

Abstract

EN A statistical analysis of selected surface microgeometry measurement results, an example from the data intended for building AI models supporting metrology scenario preparation assistance for surface topography measurements, is presented.

Pages (from - to)

27 - 28

Book

Metrologia w Technikach Wytwarzania "Metody optyczne i sztuczna inteligencja w metrologii" : XIX Krajowa, X Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, 18-20 września 2024, Wrocław : materiały konferencyjne

Presented on

XIX Krajowa, X Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania, 18-20.09.2024, Wrocław, Polska

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center

Log in through eKonto to add to SIS