W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Design for low test pattern counts

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Dziekanat Wydziału Elektroniki i Telekomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2015

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • Design for testability
  • scan-based test
  • test data compression
Strony (od-do)

1 - 6

DOI

10.1145/2744769.2744817

Książka

52nd ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), San Francisco, CA, 8-12 June 2015

Zaprezentowany na

52nd ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 8-12.06.2015, San Francisco, United States

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.