SIS PUT | Dobór gęstości próbkowania powierzchni w celu zapewnienia wymaganej niepewności pomiaru – prace badawcze

Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

PL EN

Main page / Reports / Dobór gęstości próbkowania powierzchni w celu zapewnienia wymaganej niepewności pomiaru – prace badawcze

Submit a comment

Report

Works title

Dobór gęstości próbkowania powierzchni w celu zapewnienia wymaganej niepewności pomiaru – prace badawcze

Authors

Bartosz Gapiński (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Karol Grochalski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Jakubowicz (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Lidia Marciniak-Podsadna (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Dawid Kucharski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Mendak (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Natalia Swojak (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Work ID

r3014_2022

Keywords

PL

pomiar
skanowanie
próbkowanie powierzchni

Date

28.06.2022

Language

polish

Number of pages or volume of work

98

Type of work

research report

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center

Log in through eKonto to add to SIS

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.