SIS PUT | Dobór gęstości próbkowania powierzchni w celu zapewnienia wymaganej niepewności pomiaru – prace rozwojowe

Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

PL EN

Main page / Reports / Dobór gęstości próbkowania powierzchni w celu zapewnienia wymaganej niepewności pomiaru – prace rozwojowe

Submit a comment

Report

Works title

Dobór gęstości próbkowania powierzchni w celu zapewnienia wymaganej niepewności pomiaru – prace rozwojowe

Authors

Bartosz Gapiński (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Karol Grochalski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Jakubowicz (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Lidia Marciniak-Podsadna (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Dawid Kucharski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Natalia Swojak (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Mendak (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Work ID

r3974_2023

Keywords

PL

pomiary zautomatyzowane (zrobotyzowane)
linia pomiarowa
pomiary wymiarów geometrycznych i twardości

Date

13.06.2023

Language

polish

Number of pages or volume of work

71

Type of work

research report

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center

Log in through eKonto to add to SIS

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.