Trwa generowanie pliku...

Strona główna / Publikacje / New test compression scheme based on low power BIST

Rozdział

Tytuł New test compression scheme based on low power BIST
Autorzy

1 Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | P pracownik

Rok publikacji

2013

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

1 - 6

DOI 10.1109/ETS.2013.6569374
Książka 18th IEEE European Test Symposium (ETS 2013), Avignon, 27-30 May 2013
Zaprezentowany na 18th IEEE European Test Symposium (ETS 2013), 27-30.05.2013, Avignon, France
Publikacja indeksowana w

WoS