W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

New test compression scheme based on low power BIST

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2013

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • built-in self-test
  • hybrid low power compression
  • low power test
  • test data compression
  • scan-based test
  • toggling
Streszczenie

EN This paper describes a new programmable low power test compression method that allows shaping the test power envelope in a fully predictable, accurate, and flexible fashion by adapting the existing logic BIST infrastructure. The proposed hybrid scheme efficiently combines test compression with logic BIST, where both techniques can work synergistically to deliver high quality test. Experimental results obtained for industrial designs illustrate feasibility of the proposed test scheme and are reported herein.

Strony (od-do)

1 - 6

DOI

10.1109/ETS.2013.6569374

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/6569374

Książka

18th IEEE European Test Symposium (ETS 2013), Avignon, 27-30 May 2013

Zaprezentowany na

18th IEEE European Test Symposium (ETS 2013), 27-30.05.2013, Avignon, France

Publikacja indeksowana w

WoS (15)

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.