Tytuł
Application of XPS technique to the characterisation of silica surface modified using selected ionic liquids
Autorzy
[ 1 ] Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Wydział Technologii Chemicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2005
Typ rozdziału
referat
Język publikacji
angielski
Strony (od-do)
591 - 594
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN