Tytuł
Fizyczne aspekty precyzji pomiarów metodą podwójnego rezonansu optyczno-mikrofalowego na strumieniu atomowym
Autorzy
[ 1 ] Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2006
Opublikowano w
Typ artykułu
artykuł naukowy
Język publikacji
polski
Strony (od-do)
30 - 32
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN