Tytuł
High performance dense ring generators
Autorzy
[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2006
Opublikowano w
Typ artykułu
artykuł naukowy
Język publikacji
angielski
Słowa kluczowe
EN
- built-in self-test
- design for testability
- linear feedback shift registers
- phase shifters
- ring generators
Streszczenie
EN This paper presents an enhanced architecture of on-chip pseudorandom test pattern generators, test data decompressors, and test response compactors based on ring generators. The new structure is aimed at improving layout and routing properties while, at the same time, reducing propagation delays introduced by associated phase shifters.
Strony (od-do)
83 - 87
Impact Factor
1,426
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN