W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Scan Test Bandwidth Management for Ultralarge-Scale System-on-Chip Architectures

Autorzy

[ 1 ] Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ D ] doktorant | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2015

Opublikowano w

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

Rocznik: 2015 | Tom: vol. 23 | Numer: no. 6

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • Bandwidth management
  • embedded deterministic test (EDT)
  • scan-based test
  • test access mechanism (TAM)
  • test application time
  • test compression
  • test scheduling
Streszczenie

EN This paper presents several techniques employed to resolve problems surfacing when applying scan bandwidth management to large industrial multicore system-on-chip (SoC) designs with embedded test data compression. These designs pose significant challenges to the channel management scheme, flow, and tools. This paper introduces several test logic architectures that facilitate preemptive test scheduling for SoC circuits with embedded deterministic test-based test data compression. The same solutions allow efficient handling of physical constraints in realistic applications. Finally, state-of-the-art SoC test scheduling algorithms are rearchitected accordingly by making provisions for: 1) setting up time-effective test configurations; 2) optimization of SoC pin partitions; 3) allocation of core-level channels based on scan data volume; and 4) more flexible core-wise usage of automatic test equipment channel resources. A detailed case study is illustrated herein with a variety of experiments allowing one to learn how to tradeoff different architectures and test-related factors.

Strony (od-do)

1050 - 1062

DOI

10.1109/TVLSI.2014.2332469

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/6857426

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

30

Impact Factor

1,245

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.