SIN PP | Dobór gęstości próbkowania powierzchni w celu zapewnienia wymaganej niepewności pomiaru – prace rozwojowe

W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Raporty / Dobór gęstości próbkowania powierzchni w celu zapewnienia wymaganej niepewności pomiaru – prace rozwojowe

Zgłoś uwagę

Raport

Tytuł dzieła

Dobór gęstości próbkowania powierzchni w celu zapewnienia wymaganej niepewności pomiaru – prace rozwojowe

Autorzy

Bartosz Gapiński (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Karol Grochalski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Jakubowicz (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Lidia Marciniak-Podsadna (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Dawid Kucharski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Natalia Swojak (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Mendak (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Identyfikator dzieła

r3974_2023

Słowa kluczowe

PL

pomiary zautomatyzowane (zrobotyzowane)
linia pomiarowa
pomiary wymiarów geometrycznych i twardości

Data

13.06.2023

Język

polski

Liczba stron lub objętość dzieła

71

Typ dzieła

raport z badań

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.