1.

A Concept of a Walking Robot with Potential Use in Length and Angle Metrology / Krzysztof Puzio, Michał Wieczorowski (WIM), Alejandro Pereira, Bartosz Gapiński (WIM) // W: Innovations in Mechanical Engineering III / red. José Machado, Filomena Soares, Justyna Trojanowska (WIM), Erika Ottaviano, Petr Valášek, Mallikarjuna D. Reddy, Eduardo André Perondi, Yevheniia Basova - Cham, Switzerland : Springer, 2024 - s. 10-21

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

2.

Analysis of surface measurement data for building AI models / Marta Rępalska, Tomasz Kowaluk, Dawid Kucharski (WIM), Adam Gąska, Krzysztof Stępień, Bartosz Gapiński (WIM), Michał Nawotka, Piotr Sobecki, Piotr Sosinowski, Jan Tomasik, Michał Wieczorowski (WIM), Adam Wójtowicz // W: Metrologia w Technikach Wytwarzania "Metody optyczne i sztuczna inteligencja w metrologii" : XIX Krajowa, X Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, 18-20 września 2024, Wrocław : materiały konferencyjne / red. Stanisław Adamczak, Jacek Reiner - Wrocław, Polska : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2024 - s. 27-28

Abstrakt

3.

Assessment of Threads Used in the Aviation Industry Based on the Microstructure Analysis / Bartłomiej Krawczyk (WIM), Piotr Szablewski, Bartosz Gapiński (WIM), Michał Wieczorowski (WIM) // W: Advances in Manufacturing IV. Volume 4 - Measurement and Control Systems: Digitalization, Sustainability and Industry Applications / red. Magdalena Diering (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Mukund Harugade - Cham, Switzerland : Springer, 2024 - s. 43-55

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

4.

Influence of Selected Measurement Conditions on the Reliability of the Representation of Ring and Rim Features / Michał Wieczorowski (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Dawid Kucharski (WIM), Karol Grochalski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Maria Kuznowicz (WIM), Aleksandra Krawczyk, Jerzy Sładek, Rehan Khan // W: Advances in Manufacturing IV. Volume 4 - Measurement and Control Systems: Digitalization, Sustainability and Industry Applications / red. Magdalena Diering (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Mukund Harugade - Cham, Switzerland : Springer, 2024 - s. 200-215

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

5.

Measurements of Geometric Quantities in an Automatic Line for the Verification of Large-Size Rings and Rims / Michał Wieczorowski (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Dawid Kucharski (WIM), Karol Grochalski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Aleksandra Krawczyk, Rehan Khan, Alejandro Pereira, Maciej Zakrzewicz (WIiT) // W: Innovations in Industrial Engineering III / red. José Machado, Filomena Soares, Justyna Trojanowska (WIM), Vitalii Ivanov, Katarzyna Antosz, Dagmar Cagáňová, Vijaya Kumar Manupati, Alejandro Pereira - Cham, Switzerland : Springer, 2024 - s. 75-87

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

6.

Parametric Evaluation Samples Made by SLM Technology Measured Using Micro-Computed Tomography / Michał Jakubowicz (WIM), Patryk Mietliński (WIM), Jolanta Królczyk, Grzegorz Budzik, Piotr Niesłony, Anna Trych-Wildner, Natalia Wojciechowska, Grzegorz Królczyk, Michał Wieczorowski (WIM), Julia Staśkiewicz, Tomasz Bartkowiak (WIM) // W: Advances in Manufacturing IV. Volume 4 - Measurement and Control Systems: Digitalization, Sustainability and Industry Applications / red. Magdalena Diering (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Mukund Harugade - Cham, Switzerland : Springer, 2024 - s. 83-95

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

7.

Recent Trends in Artificial Intelligence and Machine Learning Methods Applied to Water Jet Machining / Rehan Khan, Michał Wieczorowski (WIM), Ariba Qureshi, Muhammad Ammar, Tauseef Ahmed, Umair Khan // W: Advances in Manufacturing IV. Volume 2 - Production Engineering: Digitalization, Sustainability and Industry Applications / red. Justyna Trojanowska (WIM), Agnieszka Kujawińska (WIM), Ivan Pavlenko, Jozef Husar - Cham, Switzerland : Springer, 2024 - s. 34-45

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

8.

Badania możliwości implementacji odprężania wibracyjnego ram maszyn pakujących / Michał Jakubowicz (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Roman Barczewski (WIM), Bartosz Jakubek (WIM), Filip Rogiewicz, Czesław Jermak // W: VibDiag 2023 : III Konferencja naukowa "Wibroakustyka i diagnostyka maszyn, urządzeń i konstrukcji", Poznań 27-28 września 2023 r. / red. Roman Barczewski (WIM), Małgorzata Wojsznis (WIM) - Poznań, Polska : Agencja Reklamowa COMPRINT, 2023 - s. 25

Abstrakt

9.

Digital and Information Technologies in Metrology 4.0 / Michał Wieczorowski (WIM), Justyna Trojanowska (WIM), Oleksandr Sokolov // W: Advances in Design, Simulation and Manufacturing VI : Proceedings of the 6th International Conference on Design, Simulation, Manufacturing: The Innovation Exchange, DSMIE-2023, June 6–9, 2023, High Tatras, Slovak Republic - Volume 1: Manufacturing Engineering / red. Vitalii Ivanov, Justyna Trojanowska (WIM), Ivan Pavlenko, Erwin Rauch, Ján Pitel’ - Cham, Switzerland : Springer, 2023 - s. 81-90

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

10.

Funkcjonalna analiza powierzchni w inżynierii mechanicznej / Karol Grochalski (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Szymon Wojciechowski (WIM), Piotr Niesłony, Grzegorz Królczyk, Jolanta Królczyk, Marta Bogdan-Chudy, Katarzyna Nicińska, Łukasz Ślusarski // W: VibDiag 2023 : III Konferencja naukowa "Wibroakustyka i diagnostyka maszyn, urządzeń i konstrukcji", Poznań 27-28 września 2023 r. / red. Roman Barczewski (WIM), Małgorzata Wojsznis (WIM) - Poznań, Polska : Agencja Reklamowa COMPRINT, 2023 - s. 23

Abstrakt

11.

Geometrical Metrology in Food Product Measurements / Michał Wieczorowski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Maciej Szelewski, Alejandro Pereira, Thomas G. Mathia, Bartosz Gapiński (WIM) // W: Innovations in Mechanical Engineering II / red. José Machado, Filomena Soares, Justyna Trojanowska (WIM), Erika Ottaviano, Petr Valášek, Mallikarjuna D. Reddy, Eduardo André Perondi, Yevheniia Basova - Cham, Switzerland : Springer, 2023 - s. 173-186

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

12.

Topographical analysis of impressions in the Brinells hardness test / Karol Grochalski (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Paweł Pawlus // W: Proceedings of the 23rd International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, June 28th-30th 2022, Glasgow, U.K., 2023 - s. 34-35

Abstrakt

13.

Wpływ parametrów skanowania laserowego na odwzorowanie cech geometrycznych wyrobu osiowosymetrycznego / Karol Grochalski (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Michał Wieczorowski (WIM) // W: XVIII Krajowa IX Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania : streszczenia - Kielce, Polska : Politechnika Świętokrzyska, 2023 - s. 19-20

Abstrakt

14.

Comparison of Measurements Realized on Computed Tomograph and Optical Scanners for Elements Manufactured by Wire Arc Additive Manufacturing / Michał Wieczorowski (WIM), I. P. Yago, Domínguez Alejandro Pereira, Bartosz Gapiński (WIM), Grzegorz Budzik, Magdalena Diering (WIM) // W: Advances in Manufacturing III : Volume 4 - Measurement and Control Systems: Research and Technology Innovations, Industry 4.0 / red. Magdalena Diering (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Mukund Harugade, Alejandro Pereira - Cham, Switzerland : Springer, 2022 - s. 127-141

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

15.

Study of Thermostable Polyurethane Material Produced by Robotic Milling Machining / Alejandro Pereira, Maria Teresa Prado, María Fenollera, Michał Wieczorowski (WIM), Thomas Mathia // W: Innovations in Mechanical Engineering / red. José Machado, Filomena Soares, Justyna Trojanowska (WIM), Erika Ottaviano - Cham, Switzerland : Springer Nature Switzerland AG, 2022 - s. 68-81

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

16.

Verification of Computed Tomograph for Dimensional Measurements / Bartosz Gapiński (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Patryk Mietliński (WIM), Thomas G. Mathia // W: Advances in Manufacturing III : Volume 4 - Measurement and Control Systems: Research and Technology Innovations, Industry 4.0 / red. Magdalena Diering (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Mukund Harugade, Alejandro Pereira - Cham, Switzerland : Springer, 2022 - s. 142-155

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

17.

The use of drones in modern length and angle metrology / Michał Wieczorowski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Paweł Pawlus, Alejandro Pereira // W: Modern Technologies Enabling Safe and Secure UAV Operation in Urban Airspace / red. Paweł Śniatała (WIiT), Sundararaja Sitharama Iyengar, Amine Bendarma, Maciej Klósak - Amsterdam, Netherlands : IOS Press, 2021 - s. 125-140

Rozdział w monografii naukowej 20

18.

The influence of traverse speed on geometry after abrasive waterjet machining / Maciej Bartkowiak, Michał Wieczorowski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Bartosz Gapiński (WIM) // W: Industrial Measurements in Machining / red. Grzegorz M. Królczyk, Piotr Niesłony, Jolanta Królczyk - Cham, Switzerland : Springer, 2020 - s. 201-213

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

19.

Influence of Cutting Conditions in the Topography of Texturized Surfaces on Aluminium 7075 Plates Produced by Robot Machining / Alejandro Pereira, Teresa Prado, Maria Fenollera, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Thomas G. Mathia // W: Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 107-121

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

20.

The Use of Optical Scanner for Analysis of Surface Defects / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ) // W: Proceedings of the 30th International DAAAM Symposium ''Intelligent Manufacturing & Automation'' / red. B. Katalinic - Vienna, Austria : DAAAM International, 2019 - s. 0076-0085

Rozdział w monografii naukowej / referat 5

21.

Use of White Light and Laser 3D Scanners for Measurement of Mesoscale Surface Asperities / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ), Maciej Szelewski, Aleksandra Krawczyk // W: Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 239-256

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

22.

Wykorzystanie tomografii komputerowej w metrologii / Michał Wieczorowski (WBMiZ) // W: Przemysł 4.0 : algorytmizacja problemów oraz digitalizacja procesów i urządzeń / red. Wojciech Kacalak, Wojciech Sysło, Grzegorz Andrzejewski - Gorzów Wielkopolski, Polska : Wydawnictwo Naukowe Akademii im. Jakuba z Paradyża, 2019 - s. 101-112

Rozdział w monografii naukowej 20

23.

Analysis of 3D printing parameters of gears for hybrid manufacturing / Grzegorz Budzik, Łukasz Przeszłowski, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Arkadiusz Rzucidło, Bartosz Gapiński (WBMiZ), Grzegorz M. Królczyk // W: Proceedings of the 21st International ESAFORM Conference on Material Forming : ESAFORM 2018 / red. Livan Fratini: AIP Publishing, 2018 - s. 140005-1-140005-6

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

24.

Ensuring the Reliability of the Car Body Controls by Controlling the Current Inspection of Measuring Machines / Robert Koteras, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Piotr Znaniecki, Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ) // W: Advances in Manufacturing / red. Adam Hamrol (WBMiZ), Olaf Ciszak (WBMiZ), Stanisław Legutko (WBMiZ), Mieczysław Jurczyk (WBMiZ) - Cham, Switzerland : Springer, 2018 - s. 787-796

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

25.

Measurement of Surface Topography Using Computed Tomography / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Alejandro Pereira Domínguez, Lenka Cepova, Anton Martinez Rey // W: Advances in Manufacturing / red. Adam Hamrol (WBMiZ), Olaf Ciszak (WBMiZ), Stanisław Legutko (WBMiZ), Mieczysław Jurczyk (WBMiZ) - Cham, Switzerland : Springer, 2018 - s. 815-824

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

26.

Ocena właściwości metrologicznych laserowych głowic triangulacyjnych / Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Jakubowicz (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ) // W: XVII Krajowa i VIII Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania, 19-21.09.2018, Gliwice - Piekary Śląskie - Gliwice, Polska : Politechnika Śląska, 2018 - s. 311-320

Rozdział w monografii naukowej / referat

27.

Ocena wymiarów gabarytowych przedmiotu na podstawie analizy obrazu / Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Maciej Szelewski // W: XVII Krajowa i VIII Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania, 19-21.09.2018, Gliwice - Piekary Śląskie - Gliwice, Polska : Politechnika Śląska, 2018 - s. 321-330

Rozdział w monografii naukowej / referat

28.

The assessment of accuracy of inner shapes manufactured by FDM / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Agata Bąk (WBMiZ), Alejandro Pereira Domínguez, Thomas Mathia // W: Proceedings of the 21st International ESAFORM Conference on Material Forming : ESAFORM 2018 / red. Livan Fratini: AIP Publishing, 2018 - s. 140009-1-140009-6

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

29.

Wybrane źródła błędów w mikroskopii różnicowania ogniskowego / Karol Grochalski (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Mendak (WIM) // W: XVII Krajowa i VIII Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania, 19-21.09.2018, Gliwice - Piekary Śląskie - Gliwice, Polska : Politechnika Śląska, 2018

Rozdział w monografii naukowej / referat

30.

The influence of the internal and external sources of heat on the accuracy of the measurement of surface topography with the use of contact profilometer / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Karol Grochalski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Katarzyna Peta (WBMiZ) // W: 16th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Gothenburg, Sweden (26) 27–29th of June 2017 : Conference Abstracts: IOP Publishing, 2017 - s. 161-162

Abstrakt

31.

Możliwości oraz problemy występujące przy pomiarze promieni łuków / Monika Wojtkowska, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ) // W: Nowoczesne technologie w projektowaniu, inżynierii i wytwarzaniu : problemy badawcze : monografia / red. Tomasz Jachowicz, Mariusz Kłonica - Lublin, Polska : Perfekta info Renata Markisz, 2015 - s. 73-85

Rozdział w monografii naukowej

32.

Ocena zgorzeliny utworzonej na stalach węglowych poddawanych obróbce cieplno-chemicznej / Joanna Augustyn-Pieniążek, Renata Zapała, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Mirosław Grzelka (WBMiZ) // W: Struktura geometryczna powierzchni i właściwości wytrzymałościowe kół zębatych / red. Mirosław Grzelka (WBMiZ), Andrzej Kołodziej - Kalisz, Polska : Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa im. Prezydenta Stanisława Wojciechowskiego. Wydział Politechniczny. Katedra Mechaniki i Budowy Maszyn, 2011 - s. 111-126

Rozdział w podręczniku

33.

Parametry charakteryzujące chropowatość i topografię powierzchni / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Paweł Pawlus, Rafał Reizer // W: Struktura geometryczna powierzchni i właściwości wytrzymałościowe kół zębatych / red. Mirosław Grzelka (WBMiZ), Andrzej Kołodziej - Kalisz, Polska : Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa im. Prezydenta Stanisława Wojciechowskiego. Wydział Politechniczny. Katedra Mechaniki i Budowy Maszyn, 2011 - s. 23-37

Rozdział w podręczniku

34.

X-ray diffraction application for new fiat ducato M40 transmission / Aleksandro Torboli, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Damian Śmierzchalski // W: Struktura geometryczna powierzchni i właściwości wytrzymałościowe kół zębatych / red. Mirosław Grzelka (WBMiZ), Andrzej Kołodziej - Kalisz, Polska : Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa im. Prezydenta Stanisława Wojciechowskiego. Wydział Politechniczny. Katedra Mechaniki i Budowy Maszyn, 2011 - s. 7-21

Rozdział w podręczniku

35.

Analiza zdolności procesu pomiaru wałów korbowych z wykorzystaniem techniki współrzędnościowej / Lidia Marciniak, Mirosław Grzelka (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Jan Chajda (WBMiZ), Krzysztof Matliński, Izabela Olszewska // W: Postępy w metrologii współrzędnościowej : praca zbiorowa / red. Jerzy Sładek, Władysław Jakubiec - Bielsko-Biała, Polska : Wydawnictwo Akademii Techniczno-Humanistycznej, 2010 - s. 107-114

Rozdział w monografii naukowej

36.

Automation of measurement using optical scanner / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Robert Koteras, Mirosław Grzelka (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), P. Znaniecki, P. Krasicki, M. Radke // W: Contemporary problems of manufacturing and production mamagement : 3rd International Conference Manufacturing 2010 : proceedings, abstracts - Poznań, Polska : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2010 - s. 201-202

Abstrakt

37.

Correction of the machine-tool settings using the coordinate measurement / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Jan Chajda (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Krzysztof Matliński // W: Investigations and implementation of measurement methods / red. Mirosław Grzelka (WBMiZ) - Poznan, Poland : Poznan University of Technology, 2010 - s. 43-53

Rozdział w monografii naukowej

38.

Evaluation of the Measurement Algorithm for out-of-roundness Measurement with CMM / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), T. G. Mathia // W: 10 th International Symposium on Measurement and Quality Control ISMQC 2010, Osaka, Japan, September 5-9, 2010, 2010 - s. 146

Abstrakt

39.

Investigating accuracy of metrology CT systems / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Mirosław Grzelka (WBMiZ), A. Egbert // W: Contemporary problems of manufacturing and production mamagement : 3rd International Conference Manufacturing 2010 : proceedings, abstracts - Poznań, Polska : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2010 - s. 200

Abstrakt

40.

Measurement of sphericity of hip joint endoprosthesis head / Mirosław Rucki (WBMiZ), S. Lavrynenko, Michał Wieczorowski (WBMiZ), P. Andrałojć // W: 10th International Conference Advanced Materials and Operations AMO'10, 27-29.06.2010, Varna, Bulgaria, 2010 - s. 39

Abstrakt

41.

Metrological perspectives of fomography in civil engineering / Y. Vanhove, M. Wang, Michał Wieczorowski (WBMiZ), T. G. Mathia // W: 6th World Congress on Industrial Process Tomography, Beijing, China, 6th - 9th September 2010: International Society for Industrial Process Tomography, 2010

Referat

42.

Multiscale - mulipysics manufacturing and multisensor metrology of cylinder liner : from roundness to nano-roughness / S. Carras, Bartosz Gapiński (WBMiZ), Jacek Gruszka (WE), T. G. Mathia, F. P. Ninove, P. Pawlus, Michał Wieczorowski (WBMiZ) // W: Contemporary problems of manufacturing and production mamagement : 3rd International Conference Manufacturing 2010 : proceedings, abstracts - Poznań, Polska : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2010 - s. 30

Abstrakt

43.

Prediction of cylinder liner surface topography during plateau honing process / R. Reizer, Michał Wieczorowski (WBMiZ), T. G. Mathia // W: 2nd International Conference on Surface Metrology, Worcester, USA, October 25-27, 2010, 2010

Referat

44.

Principles of computer tomography application in geometrical metrology / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Leszek Różański (WBMiZ), M. Grzesiak, T. G. Mathia // W: Contemporary problems of manufacturing and production mamagement : 3rd International Conference Manufacturing 2010 : proceedings, abstracts - Poznań, Polska : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2010 - s. 203

Abstrakt

45.

Rola współrzędnościowej techniki pomiarowej w analizie reklamacji z rynku samochodowego / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Robert Koteras, Piotr Znaniecki, Joanna Brzozowska, Grzegorz Budzik // W: Postępy w metrologii współrzędnościowej : praca zbiorowa / red. Jerzy Sładek, Władysław Jakubiec - Bielsko-Biała, Polska : Wydawnictwo Akademii Techniczno-Humanistycznej, 2010 - s. 125-134

Rozdział w monografii naukowej

46.

Some aapects of hardened steel HSM : Process dynamics and modeling in relation to surface roughness / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Paweł Twardowski (WBMiZ), S. Wojciechowski, T. G. Mathia // W: 6th World Congress on Industrial Process Tomography, Beijing, China, 6th - 9th September 2010: International Society for Industrial Process Tomography, 2010 - s. 102-103

Referat

47.

Some aspects of hardened steel HSM : process dynamics and modelling in relarion fo surface roughness / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Paweł Twardowski (WBMiZ), S. Wojciechowski, T. G. Mathia // W: 2nd International Conference on Surface Metrology, Worcester, USA, October 25-27, 2010, 2010 - s. 102-112

Referat

48.

Surface morphology in counterfeiting / T. G. Mathia, M. Bigerelle, Michał Wieczorowski (WBMiZ), K. J. Kubiak, P. Carval, S. Carras // W: 2nd International Conference on Surface Metrology, Worcester, USA, October 25-27, 2010, 2010 - s. 166-168

Referat

49.

Wykorzystanie techniki współrzędnościowej do pomiaru precyzyjnych elementów wielkogabarytowych / Janusz Rupik, Jan Jendrolik, Michał Wieczorowski (WBMiZ) // W: Postępy w metrologii współrzędnościowej : praca zbiorowa / red. Jerzy Sładek, Władysław Jakubiec - Bielsko-Biała, Polska : Wydawnictwo Akademii Techniczno-Humanistycznej, 2010 - s. 115-124

Rozdział w monografii naukowej

50.

Future trends in surface morphology measurements / T. G. Mathia, P. Pawlus, Michał Wieczorowski (WBMiZ) // W: Proceedings of the 12th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, 2009 - s. 21

Referat

51.

Pomiary cech geometrycznych przedmiotów obrotowo-symetrycznych / Mirosław Grzelka (WBMiZ), Bartosz Gapiński (WBMiZ), Lidia Marciniak, Michał Wieczorowski (WBMiZ), Krzysztof Matliński, Izabela Olszewska // W: Proceedings of 13th National and 4th International Scientific Conference: Metrology in Production Engineering. Metrologia w Technikach Wytwarzania. With a 70 years jubilee of prof. Jan Chajda. MwTW Żerków 2009, 2009 - s. 145-150

Referat

52.

The analysis of surface measurement repeatability and reproducibility of results / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Andrzej Cellary (WBMiZ), Radomir Majchrowski (WBMiZ) // W: Proceedings of the 12th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, 2009 - s. 89

Referat

53.

Wykorzystanie skanera optycznego w kontroli jakości karoserii samochodu / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Robert Koteras, Piotr Znaniecki, Marek Radke // W: Proceedings of 13th National and 4th International Scientific Conference: Metrology in Production Engineering. Metrologia w Technikach Wytwarzania. With a 70 years jubilee of prof. Jan Chajda. MwTW Żerków 2009, 2009 - s. 551-556

Referat

54.

Wykorzystanie technik optycznych do kontroli produkcji tulei cylindrycznych / Józef Gruszka, Michał Wieczorowski (WBMiZ) // W: Proceedings of 13th National and 4th International Scientific Conference: Metrology in Production Engineering. Metrologia w Technikach Wytwarzania. With a 70 years jubilee of prof. Jan Chajda. MwTW Żerków 2009, 2009 - s. 139-144

Referat

55.

Emissive properties of materials and its relations with roughness [Dokument elektroniczny] / Leszek Różański (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ) // W: 8th Conference on Quantitative Infrared thermography QIRT 2006, Padova, Italy, 27-30 June 2006, 2006

Referat

56.

Roughness aspects in the thermal analysis of machine tools / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Leszek Różański (WBMiZ) // W: IMEKO XVIII World Congress and IV Brazilian Congress of Metrology, September 17-22, 2006, Rio de Janeiro, Brazil: Rio de Janeiro Letra Capital, 2006 - s. 141

Referat

57.

Pomiar chropowatości zmarszczki na skórze twarzy / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Joanna Piotrowska, Małgorzata Szubert, Carmen Vincent, Katarzyna Rogiewicz, Irena Eris // W: Metrologia w technikach wytwarzania: XI Krajowa, II Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, 15-17 września 2005 / red. Eugeniusz Ratajczyk - Lublin, Polska : Politechnika Lubelska, 2005 - s. 88-89

Referat

58.

The Influence of Surface Topography on Emissive Properties / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Leszek Różański (WBMiZ) // W: Proceedings of the 10th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces : July 4-7, 2005, Saint-Étienne, France / red. Tom R. Thomas, Bengt Göran Rosén, Hassan Zahouani: Université de Saint-Etienne, 2005 - s. 471-478

Referat

59.

Zastosowanie filtrów odpornych w pomiarach chropowatości powierzchni / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Andrzej Cellary (WBMiZ), Radomir Majchrowski // W: Metrologia w technikach wytwarzania: XI Krajowa, II Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, 15-17 września 2005 / red. Eugeniusz Ratajczyk - Lublin, Polska : Politechnika Lubelska, 2005 - s. 61-62

Referat

60.

Inteligentny system oceny chropowatości powierzchni tulei cylindrowych w procesie wytwarzania / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Andrzej Cellary (WBMiZ), R. Majchrowski // W: Metrologia w technikach wytwarzania : X Krajowa, I Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, Kraków, 2003. T. 2 - Kraków, Polska : Wydawnictwo Politechniki Krakowskiej, 2003 - s. 699-706

Referat

61.

Koncepcja badań wiarygodności w pomiarach chropowatości powierzchni / Michał Wieczorowski (WBMiZ), Andrzej Cellary (WBMiZ), Jan Chajda (WBMiZ) // W: Manufacturing, M '01 : współczesne problemy wytwarzania : konferencja naukowo-techniczna, 8-9 listopada 2001 r., Poznań. T. 2 / red. Zenobia Weiss (WBMiZ) - Poznań, Polska : Politechnika Poznańska, 2001 - s. 243-250

Referat

62.

Wpływ drgań na wiarygodność pomiarów chropowatości powierzchni / Michał Wieczorowski (WBMiZ) // W: Metrologia u progu Trzeciego Millenium: Krajowy Kongres Metrologii, Warszawa 24-27 czerwca 2001 r.: KKM 2001: materiały kongresu. T. 2 / red. Jacek Dusza, Zygmunt Jabłoński - Warszawa, Polska : BEL Studio, 2001 - s. 255-258

Referat