Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Publications / Logic BIST with capture-per-clock hybrid test points
Submit a comment

Article

Download BibTeX

Title

Logic BIST with capture-per-clock hybrid test points

Authors

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] employee

Scientific discipline (Law 2.0)

[2.3] Information and communication technology

Year of publication

2019

Published in

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Journal year: 2019 | Journal volume: vol. 38 | Journal number: no. 6

Article type

scientific article

Publication language

english

Keywords
EN
  • design for testability
  • embedded test
  • logic built-in self-test (LBIST)
  • scan-based testing
  • test points
Pages (from - to)

1028 - 1041

DOI

10.1109/TCAD.2018.2834441

URL

http://ieeexplore.ieee.org

Ministry points / journal

100

Ministry points / journal in years 2017-2021

100

Impact Factor

2,168

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.