Time and Area Optimized Testing of Automotive ICs
[ 1 ] Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ D ] phd student | [ P ] employee
2021
scientific article
english
- embedded test
- functional safety
- logic built-inself test (LBIST)
- scan-based testing
- test application time
- testpoints
76 - 88
100
100
2,775