W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Test Time Reduction in EDT Bandwidth Management for SoC Designs

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2013

Opublikowano w

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Rocznik: 2013 | Tom: vol. 32 | Numer: no. 11

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • bandwidth management
  • embedded deterministic test
  • scan-based test
  • test access mechanism
  • test application time
  • test compression
  • test scheduling
Streszczenie

EN This paper presents novel methods of reducing test time and enhancing test compression for system-on-chip (SoC) designs armed with embedded deterministic test (EDT)-based compression logic. The ability of the proposed scheme to improve the encoding efficiency and test compression, while reducing test application time, is accomplished by appropriate selecting and laying out automatic test equipment channel injectors of every single core EDT-based decompressor as well as appropriate bandwidth management of the entire test procedure combined with new control data optimization techniques. The efficacy of the proposed scheme is validated through experiments on several industrial SoC designs and is reported herein.

Strony (od-do)

1776 - 1786

DOI

10.1109/TCAD.2013.2263038

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/6634561

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

25

Impact Factor

1,203

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.