Trwa generowanie pliku...

Strona główna / Publikacje / Test Time Reduction in EDT Bandwidth Management for SoC Designs

Artykuł

Tytuł Test Time Reduction in EDT Bandwidth Management for SoC Designs
Autorzy

1 Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | P pracownik

Rok publikacji

2013

Opublikowano w

IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Rocznik: 2013 | Tom: vol. 32 | Numer: no. 11

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

1776 - 1786

DOI 10.1109/TCAD.2013.2263038
Punktacja MNiSW

25

Ujednolicona punktacja MNiSW za lata 2013-2016

25

Impact Factor

1,203