Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Artykuł

Tytuł

Test Time Reduction in EDT Bandwidth Management for SoC Designs

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2013

Opublikowano w

IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Rocznik: 2013 | Tom: vol. 32 | Numer: no. 11

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

1776 - 1786

DOI

10.1109/TCAD.2013.2263038

Punktacja MNiSW / czasopismo

25

Ujednolicony wykaz czasopism naukowych 2013-2016

25

Impact Factor

1,203