W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje

Publikacje

Wyszukiwanie
  • -
  • Publikacje do 2012
  • Pokaż
  • Sortuj wg
Parametry wyszukiwania: autor = Jakub Janicki, jednostka = wszystkie jednostki organizacyjne, rodzaj = wszystkie rodzaje, dyscyplina = wszystkie dyscypliny, publikacje z lat 2001 - 2025, sortowanie według = daty publikacji od najnowszej

Wyniki wyszukiwania (7)

Legenda:  Punktacja Ministerstwa CORE Impact Factor
  • 1.
    Scan test bandwidth management for ultra-large-scale multicore architectures / Wu-Tung Cheng, Yan Dong, Grady Gilles, Yu Huang, Jakub Janicki, Mark Kassab, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2015, vol. 23, no. 6, s. 1050-1062

    Artykuł naukowy 30 1,245
  • 2.
    Scan Test Bandwidth Management for Ultralarge-Scale System-on-Chip Architectures / Wu-Tung Cheng, Yan Dong, Grady Gilles, Yu Huang, Jakub Janicki (WEiT), Mark Kassab, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2015, vol. 23, no. 6, s. 1050-1062

    Artykuł naukowy 30 1,245
  • 3.
    High-speed serial embedded deterministic test for system-on-chip designs / Maciej Trawka, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Artur Pogiel (WEiT), Janusz Rajski, Jakub Janicki, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, Hangzhou, 16-19 Nov. 2014: IEEE, 2014 - s. 74-80

    Referat
  • 4.
    EDT bandwidth management - Practical scenarios for large SoC designs / Jakub Janicki, Jerzy Tyszer (WEiT), Wu-Tung Cheng, Yu Huang, Mark Kassab, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Yan Dong, Grady Giles // W: IEEE International Test Conference (ITC 2013), Anaheim, CA, 6-13 September, 2013: IEEE, 2013 - s. 1-10

    Referat
  • 5.
    Test Time Reduction in EDT Bandwidth Management for SoC Designs / Jakub Janicki, Mark Kassab, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2013, vol. 32, no. 11, s. 1776-1786

    Artykuł naukowy 25 1,203
  • 6.
    Bandwidth-aware test compression logic for SoC designs / Jakub Janicki, Jerzy Tyszer (WEiT), Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski // W: IEEE 17th European Test Symposium - Los Almitos, California, United States : IEEE Computer Society, 2012 - s. 14-19

    Referat
  • 7.
    EDT Bandwidth Management in SoC Designs / Jakub Janicki, Mark Kassab, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2012, vol. 31, no. 12, s. 1894-1907

    Artykuł naukowy 1,093
    • System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
    Szanowni Państwo,

    w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
    Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

    Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.