W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Test Time and Area Optimized BrST Scheme for Automotive ICs

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2019

Typ rozdziału

rozdział w monografii naukowej / referat

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • built-in self-test
  • embedded-test
  • functional safety
  • scan-based testing
  • test application time
  • test points
DOI

10.1109/ITC44170.2019.9000133

Książka

IEEE International Test Conference (ITC 2019)

Zaprezentowany na

IEEE International Test Conference (ITC 2019), 9-15.11.2019, Washington, United States

Punktacja Ministerstwa / rozdział

20

Punktacja Ministerstwa / konferencja (CORE)

70

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.