Tytuł
Test Sequence-Optimized BIST for Automotive Applications
Autorzy
[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)
Rok publikacji
2020
Typ rozdziału
rozdział w monografii naukowej / referat
Język publikacji
angielski
Słowa kluczowe
EN
- embedded-test
- logic built-in self-test
- LFSR reseeding
- scan-based testing
- test application time
- test points
Zaprezentowany na
IEEE European Test Symposium (ETS 2020), 25-29.05.2020, Tallinn, Estonia
Punktacja Ministerstwa / rozdział
20
Ten serwis działa dzięki oprogramowaniu SINUS
opracowanemu przez Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN