SIN PP | dr inż. Krzysztof Dziarski

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Ludzie / dr inż. Krzysztof Dziarski

Pracownik

Wszystkie publikacje Wszystkie raporty

dr inż. Krzysztof Dziarski

Artykuły | Rozdziały | Raporty | Rozprawa doktorska

Jednostka organizacyjna

Wydział Inżynierii Środowiska i Energetyki

Instytut Elektroenergetyki

E-mail

krzysztof.dziarski@put.poznan.pl

ORCID

0000-0002-7877-4116

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

2.2 Automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne: 100%

1.

Indirect thermographic die temperature measurement of a SiC-based semiconductor diode under the conditions of natural and forced convection / Krzysztof Dziarski (WIŚiE), Arkadiusz Hulewicz (WARiE), Przemysław Skrzypczak (WARiE) // Quantitative InfraRed Thermography Journal - 2024, in press, s. 1-25

Artykuł naukowy 140 3,7
2.

Indirect Thermographic Temperature Measurement of a Power-Rectifying Diode Die Based on a Heat Sink Thermogram / Krzysztof Dziarski (WIŚiE), Arkadiusz Hulewicz (WARiE), Łukasz Drużyński (WIŚiE), Grzegorz Dombek (WIŚiE) // Energies - 2023, vol. 16, iss. 1, s. 332-1-332-25

Artykuł naukowy 140 3
3.

Indirect Thermographic Temperature Measurement of a Power Rectifying Diode Die under Forced Convection Conditions / Krzysztof Dziarski (WIŚiE), Arkadiusz Hulewicz (WARiE), Łukasz Drużyński (WIŚiE), Grzegorz Dombek (WIŚiE) // Applied Sciences - 2023, vol. 13, iss. 7, s. 4440-1-4440-17

Artykuł naukowy 100 2,5
4.

Methods of Measurement of Die Temperature of Semiconductor Elements: A Review / Krzysztof Dziarski (WIŚiE), Arkadiusz Hulewicz (WARiE), Piotr Kuwałek (WARiE), Grzegorz Wiczyński (WARiE) // Energies - 2023, vol. 16, iss. 6, s. 2559-1-2559-25

Artykuł naukowy 140 3
5.

The Estimated Temperature of the Semiconductor Diode Junction on the Basis of the Remote Thermographic Measurement / Arkadiusz Hulewicz (WARiE), Krzysztof Dziarski (WIŚiE), Zbigniew Krawiecki (WARiE) // Sensors - 2023, vol. 23, iss. 4, s. 1944-1-1944-19

Artykuł naukowy 100 3,4

Wszystkie ARTYKUŁY

1.

Components of the Uncertainty of Thermography Temperature Measurements with the Use of a Macro Lens / Krzysztof Dziarski (WIŚiE), Arkadiusz Hulewicz (WARiE) // W: 13th International Conference on Measurement : proceedings: IEEE, 2021 - s. 1-4

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
2.

Selection of the Observation Angle in Thermography Temperature Measurements with the Use of a Macro Lens / Krzysztof Dziarski (WIŚiE) // W: 13th International Conference on Measurement : proceedings: IEEE, 2021 - s. 101-104

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
3.

Steady-State Visual Evoked Potentials SSVEP in Brain-Computer Interfaces / Arkadiusz Hulewicz (WARiE), Krzysztof Dziarski (WIŚiE) // W: 13th International Conference on Measurement : proceedings: IEEE, 2021 - s. 1-4

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
4.

Effect of unsharpness on the result of thermovision diagnostics of electronic components / Krzysztof Dziarski (WIŚiE), Arkadiusz Hulewicz (WARiE) // W: 15th Quantitative InfraRed Thermography Conference : QIRT2020: Faculty of Engineering University of Porto, 2020 - s. QIRT-2020-159-1-QIRT-2020-159-10

Rozdział w monografii naukowej / referat 5
5.

Dobór współczynnika emisyjności w termowizyjnych pomiarach temperatury złącza diody półprzewodnikowej (cz.1) / Krzysztof Dziarski (WE) // W: Badania i Rozwój Młodych Naukowców w Polsce. Nauki techniczne i inżynieryjne . Cześć V / red. Jędrzej Nyćkowiak, Jacek Leśny: Młodzi Naukowcy, 2018 - s. 7-13

Rozdział w monografii naukowej 5

Wszystkie ROZDZIAŁY

1.

Badanie wpływu nieostrości rejestrowanego termogramu na wartość niepewności termowizyjnego pomiaru temperatury / Krzysztof Dziarski (WIŚiE) // r3704_2023

Raport o danych syntetycznych
2.

Program do sterownika PLC sterującego inteligentnym stanowiskiem do termografii mikroskopowej. / Arkadiusz Hulewicz (WARiE), Krzysztof Dziarski (WIŚiE) // r1880_2021

Oprogramowanie
3.

Termowizyjne pomiary temperatury elementów półprzewodnikowych wykonanych na bazie GaN / Krzysztof Dziarski (WIŚiE) // r1713_2021

Raport o danych syntetycznych
4.

Przeprowadzenie testów i badań kabli USB / Dariusz Prokop (WE), Krzysztof Dziarski (WE) // r388_2019

Raport z badań
5.

Przeprowadzenie testów i badań lampek choinkowych / Dariusz Prokop (WE), Krzysztof Dziarski (WE) // r556506_2019

Raport z badań

Wszystkie RAPORTY

1.

Termowizyjne pomiary temperatury elementów półprzewodnikowych / Krzysztof Dziarski (WIŚiE) / prom. Grzegorz Wiczyński (WARiE), Arkadiusz Hulewicz (WARiE), rec. Waldemar Minkina, Mariusz Kaczmarek - Poznań, Polska, 2024 - 118 s.

Rozprawa doktorska

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Pracownik

dr inż. Krzysztof Dziarski

Artykuły (29)

Rozdziały (7)

Raporty (5)

Rozprawa doktorska