Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / People / Nilanjan Mukherjee

Person from outside the Poznań University of Technology
All publications

Nilanjan Mukherjee

Articles  |  Chapters  |  IP outcomes

Articles (18)

  • 1.
    LBIST for Automotive ICs with Enhanced Test Generation / Bartosz Kaczmarek, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Artur Pogiel, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2022, vol. 41, no. 7, p. 2290-2300

    Scientific article 100 2,9
  • 2.
    Time and Area Optimized Testing of Automotive ICs / Nilanjan Mukherjee, Daniel Tille, Mahendar Sapati, Yingdi Liu, Jeffrey Mayer, Sylwester Milewski (WIiT), Elham Moghaddam, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2021, vol. 29, no. 1, p. 76-88

    Scientific article 100 2,775
  • 3.
    Deterministic Stellar BIST for Automotive ICs / Yingdi Liu, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2020, vol. 39, no. 8, p. 1699-1710

    Scientific article 100 2,807
  • 4.
    Logic BIST with capture-per-clock hybrid test points / Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2019, vol. 38, no. 6, p. 1028-1041

    Scientific article 100 2,168
  • 5.
    Hardware Protection via Logic Locking Test Points / Michael Chen, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2018, vol. 37, no. 12, p. 3020-3030

    Scientific article 25 2,402
All ARTICLES

Chapters (16)

  • 1.
    Test Sequence-Optimized BIST for Automotive Applications / Bartosz Kaczmarek, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jerzy Tyszer (WIiT) // W: IEEE European Test Symposium (ETS) 2020: IEEE, 2020

    Chapter in monograph / paper 20
  • 2.
    Test Time and Area Optimized BrST Scheme for Automotive ICs / Nilanjan Mukherjee, Daniel Tille, Mahendar Sapati, Yingdi Liu, Jeffrey Mayer, Sylwester Milewski, Elham Moghaddam, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: IEEE International Test Conference (ITC 2019): IEEE, 2019

    Chapter in monograph / paper 20 70
  • 3.
    Deterministic Stellar BIST for in-system automotive test / Yingdi Liu, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Sudhakar M. Reddy, Jerzy Tyszer (WEiT) // W: 2018 IEEE International Test Conference (ITC) - New York, USA : IEEE, 2018

    Chapter in monograph / paper 20 70
  • 4.
    Full-Scan LBIST with Capture-per-Cycle Hybrid Test Points / Sylwester Milewski, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2017 IEEE INTERNATIONAL TEST CONFERENCE (ITC) - New York, NY, USA : IEEE, 2017

    Chapter in monograph / paper 20 70
  • 5.
    On Test Points Enhancing Hardware Security / Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WEiT), Justyna Zawada (WEiT) // W: 2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS) - Los Alamitos, United States : IEEE, 2016 - p. 61-66

    Paper
All CHAPTERS

IP outcomes (4)

All OUTCOMES
System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.