SIN PP | dr inż. Michał Jakubowicz

1.

Experimental Verification of Geometric Changes Caused by the Release of Residual Stresses for Large-Scale Welded Frames / Michał Wieczorowski (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Roman Barczewski (WIM), Bartosz Jakubek (WIM), Filip Rogiewicz, Czesław Jermak, Rehan Khan // Materials - 2024, vol. 17, iss. 10, s. 2389-1-2389-17

Artykuł naukowy 140 3,1
2.

Metrologia w skali makro - jak zmieniają się polskie laboratoria metrologiczne / Michał Wieczorowski (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Rafał Talar (WIM), Ewa Stachowska (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Karol Grochalski (WIM), Dawid Kucharski (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Patryk Mietliński (WIM), Natalia Swojak (WIM) // Stal, Metale & Nowe Technologie - 2024, nr 3-4, s. 20-24

Artykuł popularnonaukowy
3.

Photogrammetry-Aided Study of the Accuracy and Repeatability of a Modular System for Manufacturing Shelf Ready Packaging / Michał Jakubowicz (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Natalia Swojak (WIM), Filip Rogiewicz, Czesław Jermak // Advances in Science and Technology Research Journal - 2024, vol. 18, iss. 4, s. 111-127

Artykuł naukowy 100 1
4.

Traceability Assurance Method for Measurements Performed Using Hybrid Measuring Systems Consisting of Tactile and Optical Devices / Adam Gąska, Piotr Gąska, Maciej Gruza, Wiktor Harmatys, Tomasz Kowaluk, Adam Styk, Michał Jakubowicz (WIM), Adam Wójtowicz, Mariusz A. Wiśniewski, Jerzy Sładek // Advances in Science and Technology Research Journal - 2024, vol. 18, iss. 7, s. 447-459

Artykuł naukowy 100 1
5.

Multiscale Evaluation of Jaw Geometry Reproduction Obtained Via the Use of Selected Orthodontic Materials in Dental Implants and Orthodontics - In Vitro Case Study / Michał Jakubowicz (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Michał Mendak (WIM), Patryk Mietliński (WIM), Michał Wieczorowski (WIM) // Applied Sciences - 2023, vol. 13, iss. 12, s. 6932-1-6932-17

Artykuł naukowy 100 2,5

Wszystkie ARTYKUŁY

1.

Influence of Selected Measurement Conditions on the Reliability of the Representation of Ring and Rim Features / Michał Wieczorowski (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Dawid Kucharski (WIM), Karol Grochalski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Maria Kuznowicz (WIM), Aleksandra Krawczyk, Jerzy Sładek, Rehan Khan // W: Advances in Manufacturing IV. Volume 4 - Measurement and Control Systems: Digitalization, Sustainability and Industry Applications / red. Magdalena Diering (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Mukund Harugade - Cham, Switzerland : Springer, 2024 - s. 200-215

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
2.

Measurements of Geometric Quantities in an Automatic Line for the Verification of Large-Size Rings and Rims / Michał Wieczorowski (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Dawid Kucharski (WIM), Karol Grochalski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Aleksandra Krawczyk, Rehan Khan, Alejandro Pereira, Maciej Zakrzewicz (WIiT) // W: Innovations in Industrial Engineering III / red. José Machado, Filomena Soares, Justyna Trojanowska (WIM), Vitalii Ivanov, Katarzyna Antosz, Dagmar Cagáňová, Vijaya Kumar Manupati, Alejandro Pereira - Cham, Switzerland : Springer, 2024 - s. 75-87

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
3.

Parametric Evaluation Samples Made by SLM Technology Measured Using Micro-Computed Tomography / Michał Jakubowicz (WIM), Patryk Mietliński (WIM), Jolanta Królczyk, Grzegorz Budzik, Piotr Niesłony, Anna Trych-Wildner, Natalia Wojciechowska, Grzegorz Królczyk, Michał Wieczorowski (WIM), Julia Staśkiewicz, Tomasz Bartkowiak (WIM) // W: Advances in Manufacturing IV. Volume 4 - Measurement and Control Systems: Digitalization, Sustainability and Industry Applications / red. Magdalena Diering (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Mukund Harugade - Cham, Switzerland : Springer, 2024 - s. 83-95

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
4.

Badania możliwości implementacji odprężania wibracyjnego ram maszyn pakujących / Michał Jakubowicz (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Roman Barczewski (WIM), Bartosz Jakubek (WIM), Filip Rogiewicz, Czesław Jermak // W: VibDiag 2023 : III Konferencja naukowa "Wibroakustyka i diagnostyka maszyn, urządzeń i konstrukcji", Poznań 27-28 września 2023 r. / red. Roman Barczewski (WIM), Małgorzata Wojsznis (WIM) - Poznań, Polska : Agencja Reklamowa COMPRINT, 2023 - s. 25

Abstrakt
5.

Analysis of the Direction-Dependent Point Identification Accuracy in CMM Measurement / Tomasz Mazur, Mirosław Rucki, Michał Jakubowicz (WIM), Lenka Cepova // W: Advances in Manufacturing III : Volume 4 - Measurement and Control Systems: Research and Technology Innovations, Industry 4.0 / red. Magdalena Diering (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Mukund Harugade, Alejandro Pereira - Cham, Switzerland : Springer, 2022 - s. 48-56

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

Wszystkie ROZDZIAŁY

1.

Opracowanie metodyki pomiarowej odniesionej do technologii przyrostowej, stosowanych materiałów konstrukcyjnych oraz obróbki postprocesowej i wykończeniowej / Tomasz Bartkowiak (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Patryk Mietliński (WIM), Karol Grochalski (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Maria Kuznowicz (WIM) // r5025_2024

Raport z badań
2.

Dobór gęstości próbkowania powierzchni w celu zapewnienia wymaganej niepewności pomiaru – prace rozwojowe / Bartosz Gapiński (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Karol Grochalski (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Dawid Kucharski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Michał Mendak (WIM) // r3974_2023

Raport z badań
3.

Badania wibroakustyczne prototypu maszyny pakującej / Michał Jakubowicz (WIM), Roman Barczewski (WIM), Bartosz Jakubek (WIM) // r3404_2022

Raport z badań
4.

Szkolenie "Optyczne systemy pomiarowe" / Michał Jakubowicz (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Michał Wieczorowski (WIM) // r3234_2022

Materiały dydaktyczne
5.

Dobór gęstości próbkowania powierzchni w celu zapewnienia wymaganej niepewności pomiaru – prace badawcze / Bartosz Gapiński (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Karol Grochalski (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Dawid Kucharski (WIM), Michał Mendak (WIM), Natalia Swojak (WIM) // r3014_2022

Raport z badań

Wszystkie RAPORTY

1.

Badanie dokładności odwzorowania zarysu okrągłości za pomocą pneumatycznego przetwornika długości ze szczelinową dyszą pomiarową / Michał Jakubowicz (WBMiZ) / prom. Czesław Janusz Jermak (WBMiZ), rec. Stanisław Legutko (WBMiZ), Małgorzata Poniatowska - Poznań, Polska, 2016 - 130 s.

Rozprawa doktorska

1.

Metodyka testowania poprodukcyjnego łożysk stożkowych z zastosowaniem technik cyfrowego przetwarzania sygnałów wibroakustycznych / Bartosz Jakubek (WIM) / prom. Roman Barczewski (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), rec. Sławomir Wierzbicki, Zbigniew Dąbrowski - Poznań, Polska, 2023 - 174 s.

Rozprawa doktorska

Wszystkie ROZPRAWY DOKTORSKIE

1.

Analiza możliwości pomiaru struktury geometrycznej powierzchni elementów wykonanych w technologii druku 3D za pomocą mikrotomografii komputerowej / WIM / prom. Michał Jakubowicz, rec. Tomasz Bartkowiak, 2024

Praca magisterska
2.

Analiza kosztów jakości dla systemu zarządzania jakością na przykładzie przedsiębiorstwa branży spożywczej / WIM / prom. Michał Jakubowicz, rec. Bartosz Gapiński, 2023

Praca magisterska
3.

Detekcja i analiza cech wielowejściowych na powierzchniach wykonanych w technologii przyrostowej / WIM / prom. Michał Jakubowicz, rec. Bartosz Gapiński, 2023

Praca magisterska
4.

Ocena dokładności realizacji procesu inżynierii odwrotnej dla wybranych metod digitalizacji / WIM / prom. Michał Jakubowicz, rec. Bartosz Gapiński, 2023

Praca inżynierska
5.

Projekt lusterek dostosowujących się do pozycji motocyklisty / WIM / prom. Michał Jakubowicz, rec. Bartosz Gapiński, 2023

Praca inżynierska

Wszystkie PRACE DYPLOMOWE

1.

Badania zwilżalności powierzchni stempla przez smar stosowany w obróbce plastycznej na gorąco / WIM / prom. Tomasz Bartkowiak, rec. Michał Jakubowicz, 2024

Praca inżynierska
2.

Pomiary gwintów przy użyciu skanera optycznego / WIM / prom. Radomir Majchrowski, rec. Michał Jakubowicz, 2024

Praca inżynierska
3.

Porównanie stykowych i optycznych metod pomiaru elementu typu wałek / WIM / prom. Bartosz Gapiński, rec. Michał Jakubowicz, 2023

Praca inżynierska
4.

Wpływ parametrów druku na dokładność elementu wykonanego techniką przyrostową / WIM / prom. Bartosz Gapiński, rec. Michał Jakubowicz, 2023

Praca inżynierska
5.

Analiza struktury geometrycznej powierzchni w procesie mikrofrezowania / WIM / prom. Szymon Wojciechowski, rec. Michał Jakubowicz, 2023

Praca inżynierska

Wszystkie PRACE DYPLOMOWE

1.

Płytka dociskająca ostrze skrawające do skrawania wspomaganego laserowo / Tadeusz Chwalczuk (WIM), Piotr Kieruj (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Martyna Wiciak (WIM), Agata Felusiak (WIM), Damian Przestacki (WIM) // 2070

Wynalazek
2.

Głowica do pomiaru odchyłki okrągłości wewnętrznych powierzchni walcowych metodą stykową i bezstykową / Michał Wieczorowski (WIM), Michał Jakubowicz (WIM) // 0024

Wynalazek
3.

Urządzenie do pomiarów metodą odniesieniową zarysów okrągłości powierzchni wewnętrznych tulei cylindrowych / Michał Wieczorowski (WIM), Kazimierz Pollak, Michał Jakubowicz (WIM), Czesław Jermak // 0081

Wynalazek
4.

Głowica do pomiaru odchyłki okrągłości metodą odniesieniową, powierzchni walcowej wewnętrznej / Czesław Jermak, Michał Jakubowicz (WBMiZ) // 1637

Wynalazek
5.

Głowica do pomiaru średnicy i odchyłki okrągłości metodą odniesieniową, wewnętrznej powierzchni walcowej / Michał Jakubowicz (WBMiZ) // 1583

Wynalazek

Wszystkie WYNIKI

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Pracownik

dr inż. Michał Jakubowicz

Artykuły (36)

Rozdziały (13)

Raporty (26)

Rozprawa doktorska

Promotorstwo rozpraw doktorskich (1)

Promotorstwo prac dyplomowych (36)

Recenzje prac dyplomowych (39)

Prawa własności intelektualnej (5)